8 duim silikon wafer P/N-tipe (100) 1-100Ω dummy herwin substraat

Kort beskrywing:

Groot voorraad dubbelzijdige gepoleerde wafers, alle wafers van 50 tot 400 mm in deursnee. Indien jou spesifikasie nie in ons voorraad beskikbaar is nie, het ons langtermynverhoudings met baie verskaffers gevestig wat in staat is om wafers op maat te vervaardig om by enige unieke spesifikasie te pas.Dubbelsydige gepoleerde wafers kan gebruik word vir silikon, glas en ander materiale wat algemeen in die halfgeleierbedryf gebruik word.

Stuur e-pos aan ons

Produkbesonderhede

Produk Tags

Bekendstelling van wafer boks

Die 8-duim silikonwafer is 'n algemeen gebruikte silikonsubstraatmateriaal en word wyd gebruik in die vervaardigingsproses van geïntegreerde stroombane.Sulke silikonskyfies word algemeen gebruik om verskillende soorte geïntegreerde stroombane te maak, insluitend mikroverwerkers, geheueskyfies, sensors en ander elektroniese toestelle.8-duim silikonwafels word algemeen gebruik om skyfies van relatief groot groottes te maak, met voordele insluitend 'n groter oppervlak en die vermoë om meer skyfies op 'n enkele silikonwafer te maak, wat lei tot verhoogde produksiedoeltreffendheid.Die 8-duim silikonwafer het ook goeie meganiese en chemiese eienskappe, wat geskik is vir grootskaalse geïntegreerde stroombaanproduksie.

Produk Funksies

8" P/N-tipe, gepoleerde silikonwafer (25 stuks)

Oriëntasie: 200

Weerstand: 0.1 - 40 ohm•cm (Dit kan van bondel tot bondel verskil)

Dikte: 725+/-20um

Eerste/monitor/toetsgraad

MATERIALE EIENDOMME

Parameter	Eienskap
Tik/doteer	P, Boor N, Fosfor N, Antimoon N, Arseen
Oriëntasies	<100>, <111> sny oriëntasies af volgens kliënt se spesifikasies
Suurstof inhoud	10¹⁹ppmA Pasgemaakte toleransies per kliënt se spesifikasie
Koolstofinhoud	< 0,6 dpmA

MEGANIESE EIENSKAPPE

Parameter	Prime	Monitor/ Toets A	Toets
Deursnee	200±0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Dikte	725±20µm (standaard)	725±25µm (standaard) 450±25µm 625±25µm 1000±25µm 1300±25µm 1500±25 µm	725±50µm (standaard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Buig	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Wikkel	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Randafronding	SEMI-STD
Nasien	Slegs primêre SEMI-woonstel, SEMI-STD-woonstelle Jeida-woonstel, kerf

Parameter	Prime	Monitor/ Toets A	Toets
Voorkant-kriteria
Oppervlakte toestand	Chemies Meganies Gepoleer	Chemies Meganies Gepoleer	Chemies Meganies Gepoleer
Oppervlakkige skurfheid	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Besoedeling Deeltjies@ >0.3 µm	= 20	= 20	= 30
Waas, kuile Lemoen skil	Geen	Geen	Geen
Gesien, Marks Strooie	Geen	Geen	Geen
Agterkant-kriteria
Krake, kraaipote, saagmerke, vlekke	Geen	Geen	Geen
Oppervlakte toestand	Bytend geëts